Przejdź do zawartości
Merck

553123

Sigma-Aldrich

Tetrakis(ethylmethylamido)hafnium(IV)

≥99.99% trace metals basis

Synonim(y):

TEMAH, Tetrakis(ethylmethylamino)hafnium(IV)

Zaloguj sięWyświetlanie cen organizacyjnych i kontraktowych


About This Item

Wzór liniowy:
[(CH3)(C2H5)N]4Hf
Numer CAS:
Masa cząsteczkowa:
410.90
Numer MDL:
Kod UNSPSC:
12352103
Identyfikator substancji w PubChem:
NACRES:
NA.23

Poziom jakości

Próba

≥99.99% trace metals basis

Postać

liquid

przydatność reakcji

core: hafnium

zanieczyszczenia

Purity excludes ~2000 ppm Zirconium

tw

78 °C/0.01 mmHg (lit.)

mp

<-50 °C

gęstość

1.324 g/mL at 25 °C (lit.)

ciąg SMILES

CCN(C)[Hf](N(C)CC)(N(C)CC)N(C)CC

InChI

1S/4C3H8N.Hf/c4*1-3-4-2;/h4*3H2,1-2H3;/q4*-1;+4

Klucz InChI

NPEOKFBCHNGLJD-UHFFFAOYSA-N

Szukasz podobnych produktów? Odwiedź Przewodnik dotyczący porównywania produktów

Opis ogólny

Tetrakis(ethylmethylamido)hafnium(IV) (TEMAH) is a colorlessliquid that is sensitive to water and air. It freezes at -50 °C and boilsaround 78 °C at 0.1 Torr.

Zastosowanie

TEMAH is used as a precursor for atomic layer deposition (ALD)of hafnium oxide (HfO2) thin films. Because HfO2 has a high dielectric constant of 16-25, it is commonly used as a dielectric film in semiconductor fabrication.

TEMAH is ideal for ALD because of its low boiling point and its reactivity with water and ozone. Most importantly, its adsorption is self-limiting on a number of substrates including glass, indium-tin oxide(ITO), and Si(100). Researchers have also used it to deposit thin films ofHfO2 on 2D materials, like MoS2.


TEMAH is also useful precursor in the synthesis of ferroelectric hafnium zirconium oxide and Hf1-xZrxO2 thin films on MoS2 phototransistors. Researchers have also deposited thin films of hafnium nitride (Hf3N4) by ALD alternatively pulsing TEMAH and ammonia.

Cechy i korzyści

  • Thermally stable.
  • It has sufficient volatility and is suitable for use in vapor deposition.
  • Completely self-limiting surface reactions.
Ta strona może zawierać tekst przetłumaczony maszynowo.

Hasło ostrzegawcze

Danger

Zwroty wskazujące rodzaj zagrożenia

Klasyfikacja zagrożeń

Acute Tox. 4 Oral - Eye Dam. 1 - Flam. Liq. 2 - Skin Corr. 1B - STOT SE 3 - Water-react 1

Organy docelowe

Respiratory system

Zagrożenia dodatkowe

Kod klasy składowania

4.3 - Hazardous materials which set free flammable gases upon contact with water

Klasa zagrożenia wodnego (WGK)

WGK 3

Temperatura zapłonu (°F)

51.8 °F - closed cup

Temperatura zapłonu (°C)

11 °C - closed cup

Środki ochrony indywidualnej

Eyeshields, Faceshields, Gloves, type ABEK (EN14387) respirator filter


Wybierz jedną z najnowszych wersji:

Certyfikaty analizy (CoA)

Lot/Batch Number

Nie widzisz odpowiedniej wersji?

Jeśli potrzebujesz konkretnej wersji, możesz wyszukać konkretny certyfikat według numeru partii lub serii.

Masz już ten produkt?

Dokumenty związane z niedawno zakupionymi produktami zostały zamieszczone w Bibliotece dokumentów.

Odwiedź Bibliotekę dokumentów

Atomic Layer Deposition of Hafnium Dioxide Films from Hafnium Tetrakis(ethylmethylamide) and Water.
Kukli K, et al.
Chem. Vap. Deposition, 8, 199-204 (2002)
Luqi Tu et al.
Nature communications, 11(1), 101-101 (2020-01-05)
Sensitive photodetection is crucial for modern optoelectronic technology. Two-dimensional molybdenum disulfide (MoS2) with unique crystal structure, and extraordinary electrical and optical properties is a promising candidate for ultrasensitive photodetection. Previously reported methods to improve the performance of MoS2 photodetectors have focused
Jaehyun Yang et al.
ACS applied materials & interfaces, 5(11), 4739-4744 (2013-05-21)
We report on the effect of oxygen plasma treatment of two-dimensional multilayer MoS2 crystals on the subsequent growth of Al2O3 and HfO2 films, which were formed by atomic layer deposition (ALD) using trimethylaluminum and tetrakis-(ethylmethylamino)hafnium metal precursors, respectively, with water

Produkty

The properties of many devices are limited by the intrinsic properties of the materials that compose them.

Nasz zespół naukowców ma doświadczenie we wszystkich obszarach badań, w tym w naukach przyrodniczych, materiałoznawstwie, syntezie chemicznej, chromatografii, analityce i wielu innych dziedzinach.

Skontaktuj się z zespołem ds. pomocy technicznej