Przejdź do zawartości
Merck
Wszystkie zdjęcia(1)

Kluczowe dokumenty

SIBN4W

Sigma-Aldrich

Boron Nitride on SiO2/Si Substrate

SIBN4W

Zaloguj sięWyświetlanie cen organizacyjnych i kontraktowych


About This Item

Kod UNSPSC:
12352103
NACRES:
MA.24

opis

die layer thickness 300 nm SiO2
die layer thickness 36 nm boron nitride

producent / nazwa handlowa

SIBN4W

Średnica

4 in. , wafer

die thickness

525 μm , silicon

Szukasz podobnych produktów? Odwiedź Przewodnik dotyczący porównywania produktów


Wybierz jedną z najnowszych wersji:

Certyfikaty analizy (CoA)

Lot/Batch Number

It looks like we've run into a problem, but you can still download Certificates of Analysis from our Dokumenty section.

Proszę o kontakt, jeśli potrzebna jest pomoc Obsługa Klienta

Masz już ten produkt?

Dokumenty związane z niedawno zakupionymi produktami zostały zamieszczone w Bibliotece dokumentów.

Odwiedź Bibliotekę dokumentów

Nasz zespół naukowców ma doświadczenie we wszystkich obszarach badań, w tym w naukach przyrodniczych, materiałoznawstwie, syntezie chemicznej, chromatografii, analityce i wielu innych dziedzinach.

Skontaktuj się z zespołem ds. pomocy technicznej