Przejdź do zawartości
Merck

767484

Sigma-Aldrich

Nickel

sputtering target, diam. × thickness 2.00 in. × 0.25 in., 99.95% trace metals basis

Zaloguj sięWyświetlanie cen organizacyjnych i kontraktowych


About This Item

Wzór empiryczny (zapis Hilla):
Ni
Numer CAS:
Masa cząsteczkowa:
58.69
Numer WE:
Numer MDL:
Kod UNSPSC:
12352103
Identyfikator substancji w PubChem:
NACRES:
NA.23

Próba

99.95% trace metals basis

Formularz

solid

przydatność reakcji

core: nickel

rezystywność

6.97 μΩ-cm, 20°C

śr. × grubość

2.00 in. × 0.25 in.

bp

2732 °C (lit.)

mp

1453 °C (lit.)

gęstość

8.9 g/mL at 25 °C (lit.)

ciąg SMILES

[Ni]

InChI

1S/Ni

Klucz InChI

PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N

Zastosowanie

Sputtering to proces, w którym atomy są wyrzucane ze stałego materiału docelowego w wyniku bombardowania celu przez cząstki energetyczne. Ekstremalna miniaturyzacja komponentów w przemyśle półprzewodnikowym i elektronicznym wymaga wysokiej czystości tarcz do napylania w celu osadzania cienkich warstw.
Ta strona może zawierać tekst przetłumaczony maszynowo.

Piktogramy

Health hazardExclamation mark

Hasło ostrzegawcze

Danger

Zwroty wskazujące rodzaj zagrożenia

Zwroty wskazujące środki ostrożności

Klasyfikacja zagrożeń

Carc. 2 - Skin Sens. 1 - STOT RE 1

Kod klasy składowania

6.1D - Non-combustible acute toxic Cat.3 / toxic hazardous materials or hazardous materials causing chronic effects

Klasa zagrożenia wodnego (WGK)

WGK 2

Temperatura zapłonu (°F)

Not applicable

Temperatura zapłonu (°C)

Not applicable


Wykazy regulacyjne

Wykazy regulacyjne dotyczą głównie produktów chemicznych. Można w nich podawać ograniczoną liczbę informacji na temat produktów niechemicznych. Brak wpisu oznacza, że żaden ze składników nie znajduje się w wykazie. Użytkownik odpowiada za zagwarantowanie bezpiecznego i zgodnego z prawem stosowania produktu.

EU REACH Annex XVII (Restriction List)

CAS No.

Wybierz jedną z najnowszych wersji:

Certyfikaty analizy (CoA)

Lot/Batch Number

Nie widzisz odpowiedniej wersji?

Jeśli potrzebujesz konkretnej wersji, możesz wyszukać konkretny certyfikat według numeru partii lub serii.

Masz już ten produkt?

Dokumenty związane z niedawno zakupionymi produktami zostały zamieszczone w Bibliotece dokumentów.

Odwiedź Bibliotekę dokumentów

Klienci oglądali również te produkty

Slide 1 of 1

1 of 1

Helmersson; U.; et al.
Thin Solid Films, 513, 1-1 (2006)
S M Marchan et al.
The European journal of prosthodontics and restorative dentistry, 21(1), 24-28 (2013-05-21)
Posterior resin bonded cast metal restorations (adhesive onlays) were used in a variety of clinical scenarios including: management of tooth wear and cracked tooth, as retainers for fixed bridge work, for correction of the occlusal plane and in providing cuspal
Marilia O S Seijo et al.
Journal of dental education, 77(5), 648-655 (2013-05-10)
Including students' perceptions in the educational process is considered a key component in monitoring the quality of academic programs. This study aimed to evaluate the concept of one's learning experience in endodontic teaching from the perspective of a group of
A J Feilzer et al.
Nederlands tijdschrift voor tandheelkunde, 120(6), 335-341 (2013-07-19)
Orally applied metal alloys can cause undesirable physical effects. A distinction needs to be made in this respect between local and systemic reactions and toxic and immunological reactions. A case is presented which illustrates this problem. In this case, the
Fariborz Amini et al.
International journal of orthodontics (Milwaukee, Wis.), 24(1), 43-44 (2013-06-05)
In this report, we present an uncomplicated approach to overcome lingual rolling of mandibular molars during orthodontic treatment, by using rectangular NiTi arch wire in twist fashion through the molar tube. The sequential steps of the twist manoeuvre on a

Produkty

Nanocomposite Coatings with Tunable Properties Prepared by Atomic Layer Deposition

Spin-based electronic (spintronic) devices offer significant improvement to the limits of conventional charge-based memory and logic devices which suffer from high power usage, leakage current, performance saturation, and device complexity.

The properties of many devices are limited by the intrinsic properties of the materials that compose them.

Nasz zespół naukowców ma doświadczenie we wszystkich obszarach badań, w tym w naukach przyrodniczych, materiałoznawstwie, syntezie chemicznej, chromatografii, analityce i wielu innych dziedzinach.

Skontaktuj się z zespołem ds. pomocy technicznej