455199
Tetrakis(dimethylamido)hafnium(IV)
≥99.99%
Sinônimo(s):
TDMAH, Tetrakis(dimethylamino)hafnium(IV)
About This Item
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Nível de qualidade
Ensaio
≥99.99%
Formulário
low-melting solid
adequação da reação
core: hafnium
pf
26-29 °C (lit.)
densidade
1.098 g/mL at 25 °C
cadeia de caracteres SMILES
CN(C)[Hf](N(C)C)(N(C)C)N(C)C
InChI
1S/4C2H6N.Hf/c4*1-3-2;/h4*1-2H3;/q4*-1;+4
chave InChI
ZYLGGWPMIDHSEZ-UHFFFAOYSA-N
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Categorias relacionadas
Descrição geral
Aplicação
- As an atomic layer deposition(ALD) precursor for deposition of hafnium oxide thin films for advanced semiconductor devices.
- As a precursor to fabricate polymer-derived ceramic nanocomposites.
- To prepare HfO2, CeO2, and Ce-doped HfO2 thin films on Ge substrates by using tris(isopropyl-cyclopentadienyl)cerium [Ce(iPrCp)3] precursors with H2O via ALD method.
- To produce Hf3N4 thin films with TDMAH and ammonia at low substrate temperatures at 150−250 °C.
Nota de análise
acessório
Palavra indicadora
Danger
Frases de perigo
Declarações de precaução
Classificações de perigo
Flam. Sol. 1 - Skin Corr. 1B - Water-react 2
Perigos de suplementos
Código de classe de armazenamento
4.3 - Hazardous materials which set free flammable gases upon contact with water
Classe de risco de água (WGK)
WGK 3
Equipamento de proteção individual
Eyeshields, Faceshields, Gloves, type P3 (EN 143) respirator cartridges
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