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品質水準
アッセイ
95%
形状
liquid
屈折率
n20/D 1.454 (lit.)
bp
148-149 °C (lit.)
密度
1.005 g/mL at 25 °C (lit.)
SMILES記法
C[Si](C)(Cl)[Si](C)(C)Cl
InChI
1S/C4H12Cl2Si2/c1-7(2,5)8(3,4)6/h1-4H3
InChI Key
SFAZXBAPWCPIER-UHFFFAOYSA-N
シグナルワード
Danger
危険有害性情報
危険有害性の分類
Flam. Liq. 3 - Skin Corr. 1B
補足的ハザード
保管分類コード
3 - Flammable liquids
WGK
WGK 3
引火点(°F)
98.6 °F - closed cup
引火点(℃)
37 °C - closed cup
個人用保護具 (PPE)
Faceshields, Gloves, Goggles, type ABEK (EN14387) respirator filter
適用法令
試験研究用途を考慮した関連法令を主に挙げております。化学物質以外については、一部の情報のみ提供しています。 製品を安全かつ合法的に使用することは、使用者の義務です。最新情報により修正される場合があります。WEBの反映には時間を要することがあるため、適宜SDSをご参照ください。
消防法
第4類:引火性液体
第二石油類
危険等級III
非水溶性液体
Jan Code
415456-25ML:
415456-VAR:
415456-5ML:
415456-BULK:
試験成績書(COA)
製品のロット番号・バッチ番号を入力して、試験成績書(COA) を検索できます。ロット番号・バッチ番号は、製品ラベルに「Lot」または「Batch」に続いて記載されています。
資料
atomic layer deposition (ALD), microelectronics, Mo:Al2O3 films, nanocomposite coating, photovoltaics, semiconductor devices, W:Al2O3 films, composite films, layer-by-layer
atomic layer deposition (ALD), microelectronics, Mo:Al2O3 films, nanocomposite coating, photovoltaics, semiconductor devices, W:Al2O3 films, composite films, layer-by-layer
Spin-based electronic (spintronic) devices offer significant improvement to the limits of conventional charge-based memory and logic devices which suffer from high power usage, leakage current, performance saturation, and device complexity.
Spin-based electronic (spintronic) devices offer significant improvement to the limits of conventional charge-based memory and logic devices which suffer from high power usage, leakage current, performance saturation, and device complexity.
ライフサイエンス、有機合成、材料科学、クロマトグラフィー、分析など、あらゆる分野の研究に経験のあるメンバーがおります。.
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