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Sigma-Aldrich

Hexachlorodisilane

96%

동의어(들):

1,1,1,2,2,2-Hexachlorodisilane, Disilicon hexachloride, HCDS

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About This Item

Linear Formula:
(SiCl3)2
CAS Number:
Molecular Weight:
268.89
EC Number:
MDL number:
UNSPSC 코드:
12352103
PubChem Substance ID:
NACRES:
NA.23

분석

96%

형태

liquid

refractive index

n20/D 1.475 (lit.)

bp

144-145.5 °C (lit.)

density

1.562 g/mL at 25 °C (lit.)

SMILES string

Cl[Si](Cl)(Cl)[Si](Cl)(Cl)Cl

InChI

1S/Cl6Si2/c1-7(2,3)8(4,5)6

InChI key

LXEXBJXDGVGRAR-UHFFFAOYSA-N

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일반 설명

Hexachlorodisilane (HCDS) is a chlorosilane used as a precursor for producing disilanes. It is a dioxidizer that is used in the production of silicon films and silicon nitride based films.

애플리케이션

HCDS can be used in the fabrication of silica aerogels by chemical vapor deposition (CVD), which can be potentially used as encapsulating agents and thermal insulators. It can also be used to synthesize 1,1,1,2,2,2-hexaamino-disilanes using CVD, which forms silicon-based films for microelectronic-based applications.
HCDS may be used as a reducing agent. It may be combined with ammonia to form silicon nitride by chemical vapor deposition(CVD) technique.

픽토그램

Corrosion

신호어

Danger

유해 및 위험 성명서

Hazard Classifications

Skin Corr. 1B

보충제 위험성

Storage Class Code

8A - Combustible corrosive hazardous materials

WGK

WGK 3

Flash Point (°F)

Not applicable

Flash Point (°C)

Not applicable

개인 보호 장비

Faceshields, Gloves, Goggles, type ABEK (EN14387) respirator filter


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Journal of the Electrochemical Society, 147(6), 2284-2289 (2000)
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Journal of Non-Crystalline Solids, 375(19), 3435-3441 (2011)
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