분석
≥99.99% trace metals basis
형태
liquid
반응 적합성
core: hafnium
불순물
Purity excludes ~2000 ppm Zirconium
bp
78 °C/0.01 mmHg (lit.)
mp
<-50 °C
density
1.324 g/mL at 25 °C (lit.)
SMILES string
CCN(C)[Hf](N(C)CC)(N(C)CC)N(C)CC
InChI
1S/4C3H8N.Hf/c4*1-3-4-2;/h4*3H2,1-2H3;/q4*-1;+4
InChI key
NPEOKFBCHNGLJD-UHFFFAOYSA-N
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일반 설명
애플리케이션
TEMAH is ideal for ALD because of its low boiling point and its reactivity with water and ozone. Most importantly, its adsorption is self-limiting on a number of substrates including glass, indium-tin oxide(ITO), and Si(100). Researchers have also used it to deposit thin films ofHfO2 on 2D materials, like MoS2.
TEMAH is also useful precursor in the synthesis of ferroelectric hafnium zirconium oxide and Hf1-xZrxO2 thin films on MoS2 phototransistors. Researchers have also deposited thin films of hafnium nitride (Hf3N4) by ALD alternatively pulsing TEMAH and ammonia.
특징 및 장점
- Thermally stable.
- It has sufficient volatility and is suitable for use in vapor deposition.
- Completely self-limiting surface reactions.
신호어
Danger
유해 및 위험 성명서
Hazard Classifications
Acute Tox. 4 Oral - Eye Dam. 1 - Flam. Liq. 2 - Skin Corr. 1B - STOT SE 3 - Water-react 1
표적 기관
Respiratory system
보충제 위험성
Storage Class Code
4.3 - Hazardous materials which set free flammable gases upon contact with water
WGK
WGK 3
Flash Point (°F)
51.8 °F - closed cup
Flash Point (°C)
11 °C - closed cup
개인 보호 장비
Eyeshields, Faceshields, Gloves, type ABEK (EN14387) respirator filter
시험 성적서(COA)
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문서
The properties of many devices are limited by the intrinsic properties of the materials that compose them.
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