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Merck

基板・電子部品

電子デバイス用パターニング基板のイメージ

エレクトロニクス向け基板およびプレハブ(prefabricated)電子部品は、新規開発した半導体材料の特性評価や、化学的/生物学的検体を検出するための効果的なFET(field-effect transistor)センサを構築するための作業時間を大幅に短縮することを目的としています。対象とする半導体層を追加するだけです。

  • 予めパターン化された櫛形電極により、バックゲート型電界効果トランジスタ(FET)を迅速に作製することができます。これらの電極は、標準的なリフトオフ技術を使用して導電性シリコンウェハ上に予め作製されており、信頼性の高いソース/ドレインのオーミックコンタクト、非常に大きなチャネル幅/長さ比(500~4000)、多様な誘電体の厚さとデバイス構造を選択することができます。
  • バックゲート型LOFET(lateral organic field-effect transistor)回路は、リングオシレータの周波数測定しか必要としないため、個々のトランジスタの測定や解析に時間をかける必要がなく、活性物質の特性評価を簡素化することができます。

詳しくはこちらをご覧ください。



  • プローブステーションがなくても、信頼性の高いパッドコンタクトで高速かつ簡単にデバイスを測定できるMiniproberを使って、最終的なデバイスをテストすることができます。
  • また、ホールバー形状・2プローブ形状のFET、または液体ゲーティング用のプレハブグラフェンチップを使用して、グラフェンセンサーの研究やアプリケーションを迅速に進めることができます。
  • ナノデバイスやナノ材料の特性評価のために、様々なグリッド材料、メッシュサイズ、グリッド構成、コーティング素材や厚さのTEM用グリッドや各種サンプル作成用ツールなどを取り揃えています。
  • 取り扱いが容易な形状の多様な水性および非水性参照電極や、作用電極、対電極、補助電極など、電気化学向け器具を幅広く取り揃えています。



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