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Sigma-Aldrich

Tetrakis(dimethylamido)titanium(IV)

packaged for use in deposition systems

Synonyme(s) :

TDMAT, Tetrakis(dimethylamino)titanium(IV)

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About This Item

Formule linéaire :
[(CH3)2N]4Ti
Numéro CAS:
Poids moléculaire :
224.17
Numéro CE :
Numéro MDL:
Code UNSPSC :
12352103
ID de substance PubChem :
Nomenclature NACRES :
NA.23

Niveau de qualité

Pureté

99.999% (trace metals analysis)

Forme

liquid

Pertinence de la réaction

core: titanium

Point d'ébullition

50 °C/0.5 mmHg (lit.)

Densité

0.947 g/mL at 25 °C (lit.)

Chaîne SMILES 

CN(C)[Ti](N(C)C)(N(C)C)N(C)C

InChI

1S/4C2H6N.Ti/c4*1-3-2;/h4*1-2H3;/q4*-1;+4

Clé InChI

MNWRORMXBIWXCI-UHFFFAOYSA-N

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Description générale

Atomic number of base material: 22 Titanium

Application

The product is a precursor for the deposition of titanium dioxide thin films by atomic layer deposition with water. Tetrakis(dimethylamido)titanium(IV) (TDMAT) undergoes exothermal reaction with excess cyclopentadiene to yield tris(dimethylamido)(η5-cyclopentadienyl)titanium(IV).

Pictogrammes

FlameCorrosion

Mention d'avertissement

Danger

Mentions de danger

Classification des risques

Flam. Liq. 2 - Skin Corr. 1B - Water-react 1

Risques supp

Code de la classe de stockage

4.3 - Hazardous materials which set free flammable gases upon contact with water

Classe de danger pour l'eau (WGK)

WGK 3

Point d'éclair (°F)

-22.0 °F - closed cup

Point d'éclair (°C)

-30 °C - closed cup

Équipement de protection individuelle

Faceshields, Gloves, Goggles, type ABEK (EN14387) respirator filter


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Mikami K, et al. et al.
Science of Synthesis: Houben-Weyl Methods of Molecular Transformations, 2, 494-494 (2014)
Journal of Applied Physics, 102, 083521/1-083521/1 (2007)
Matthew T McDowell et al.
ACS applied materials & interfaces, 7(28), 15189-15199 (2015-06-18)
Light absorbers with moderate band gaps (1-2 eV) are required for high-efficiency solar fuels devices, but most semiconducting photoanodes undergo photocorrosion or passivation in aqueous solution. Amorphous TiO2 deposited by atomic-layer deposition (ALD) onto various n-type semiconductors (Si, GaAs, GaP

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