767492
Silizium
sputtering target, diam. × thickness 2.00 in. × 0.25 in., 99.999% trace metals basis
About This Item
Empfohlene Produkte
Assay
99.999% trace metals basis
Form
solid
Eignung der Reaktion
core: silicon
Durchm. × Dicke
2.00 in. × 0.25 in.
bp
2355 °C (lit.)
mp (Schmelzpunkt)
1410 °C (lit.)
Dichte
2.33 g/mL at 25 °C (lit.)
SMILES String
[Si]
InChI
1S/Si
InChIKey
XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N
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Anwendung
Lagerklassenschlüssel
13 - Non Combustible Solids
WGK
WGK 3
Flammpunkt (°F)
Not applicable
Flammpunkt (°C)
Not applicable
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