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GF01564017

Carbon

foil, 25x25mm, thickness 0.5mm, rigid graphite, fine grain size, 99.95%

Sinônimo(s):

Activated charcoal, C 000420, Charcoal activated

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About This Item

Fórmula empírica (Notação de Hill):
C
Número CAS:
Peso molecular:
12.01
Número MDL:
Código UNSPSC:
12141908
ID de substância PubChem:
NACRES:
NA.23

pressão de vapor

<0.1 mmHg ( 20 °C)

Ensaio

99.95%

forma

foil

temperatura de autoignição

842 °F

fabricante/nome comercial

Goodfellow 015-640-17

resistividade

1375 μΩ-cm, 20°C (graphite)

C × L × espessura

25 × 25 mm × 0.5 mm

pf

3550 °C (lit.)

cadeia de caracteres SMILES

[C]

InChI

1S/C

chave InChI

OKTJSMMVPCPJKN-UHFFFAOYSA-N

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Descrição geral

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Informações legais

Product of Goodfellow

Código de classe de armazenamento

13 - Non Combustible Solids

Classe de risco de água (WGK)

nwg

Ponto de fulgor (°F)

Not applicable

Ponto de fulgor (°C)

Not applicable


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I Dietrich et al.
Ultramicroscopy, 3(2), 185-189 (1978-01-01)
Radiation damage on a holey carbon foil was investigated in an electron microscope with a superconducting lens system, where the temperature of the specimen and its environment initially was 4 K. Due to an electron dose of 2 X 10(4)
Doubly differential secondary-electron yields following 8-MeV/u U68+- and 3.5-MeV/u U38+-ion impact on a thin carbon-foil target.
Schneider et al.
Physical review. A, Atomic, molecular, and optical physics, 47(5), 3945-3950 (1993-05-01)
Formation of Rydberg states in fast ions penetrating thin carbon-foil and gas targets.
Schiwietz et al.
Physical review letters, 59(14), 1561-1564 (1987-10-05)
Birtcher et al.
Physical review letters, 85(23), 4968-4971 (2000-12-02)
In situ transmission electron microscopy has been used to observe sputtered Au during Xe ion irradiation in transmission geometry. The sputtered Au was collected on an electron transparent carbon foil. Nanoparticles were observed on the collector foil after they were
Systematics of equilibrium charge distributions of ions passing through a carbon foil over the ranges Z=4-92 and E=0.02-6 MeV/u.
Shima et al.
Physical review. A, General physics, 40(7), 3557-3570 (1989-10-01)

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