Accéder au contenu
Merck
Toutes les photos(1)

Key Documents

262994

Sigma-Aldrich

Yttrium

chips, 99.9% trace rare earth metals basis

Synonyme(s) :

Yttrium element, Yttrium-89

Se connecterpour consulter vos tarifs contractuels et ceux de votre entreprise/organisme


About This Item

Formule empirique (notation de Hill):
Y
Numéro CAS:
Poids moléculaire :
88.91
Numéro CE :
Numéro MDL:
Code UNSPSC :
12141617
ID de substance PubChem :
Nomenclature NACRES :
NA.23

Niveau de qualité

Pureté

99.9% trace rare earth metals basis

Forme

chips

Résistivité

57 μΩ-cm, 20°C

Point d'ébullition

3338 °C (lit.)

Pf

1522 °C (lit.)

Densité

4.469 g/mL at 25 °C (lit.)

Chaîne SMILES 

[Y]

InChI

1S/Y

Clé InChI

VWQVUPCCIRVNHF-UHFFFAOYSA-N

Vous recherchez des produits similaires ? Visite Guide de comparaison des produits

Code de la classe de stockage

11 - Combustible Solids

Classe de danger pour l'eau (WGK)

WGK 3

Point d'éclair (°F)

Not applicable

Point d'éclair (°C)

Not applicable

Équipement de protection individuelle

Eyeshields, Gloves, type N95 (US)


Faites votre choix parmi les versions les plus récentes :

Certificats d'analyse (COA)

Lot/Batch Number

Vous ne trouvez pas la bonne version ?

Si vous avez besoin d'une version particulière, vous pouvez rechercher un certificat spécifique par le numéro de lot.

Déjà en possession de ce produit ?

Retrouvez la documentation relative aux produits que vous avez récemment achetés dans la Bibliothèque de documents.

Consulter la Bibliothèque de documents

Les clients ont également consulté

S Blanco-Canosa et al.
Physical review letters, 110(18), 187001-187001 (2013-05-21)
We use resonant x-ray scattering to determine the momentum-dependent charge correlations in YBa(2)Cu(3) O(6.55) samples with highly ordered chain arrays of oxygen acceptors (ortho-II structure). The results reveal nearly critical, biaxial charge density wave (CDW) correlations at in-plane wave vectors
Yttrium-catalyzed addition of benzylic C-H bonds of alkyl pyridines to olefins.
Bing-Tao Guan et al.
Angewandte Chemie (International ed. in English), 52(16), 4418-4421 (2013-03-21)
Masahiko Ooe et al.
Aesthetic plastic surgery, 37(2), 424-433 (2013-02-12)
Skin wrinkles are one of the most cosmetically concerning signs of aging for women, and improvements in the visual effect of wrinkles become a matter of concern that has an impact on the quality of life. Although various wrinkle treatments
José Renato Queiroz et al.
The journal of adhesive dentistry, 15(2), 151-159 (2013-03-28)
To compare the effect of silica (Si)-based nano-coating deposited by reactive magnetron sputtering (RMP) with that of conventional surface conditioning using metal/zirconia primer alone or after air-particle abrasion on the adhesion of resin cements to zirconia ceramic. Two hundred forty
Gitanjal Deka et al.
Journal of biomedical optics, 19(1), 011012-011012 (2013-08-21)
Cellular micropattering has been increasingly adopted in quantitative biological experiments. A Q-switched pulsed neodymium-doped yttrium ortho-vanadate (Nd∶YVO4) laser directed in-situ microfabrication technique for cell patterning is presented. A platform is designed uniquely to achieve laser ablation. The platform is comprised

Articles

A significant limiting factor for wearable electronics and wireless sensors is the finite amount of energy that can be stored in on-board batteries.

The application of magnetism and magnetic materials pervades our modern civilization in the form of electrical power, communications and information storage.

Rechargeable solid-state batteries are becoming increasingly important due to wide-spread use in computers, portable electronics, and vehicular applications.

The unique properties of the rare-earth elements and their alloys have brought them from relative obscurity to high profile use in common hightech applications.

Notre équipe de scientifiques dispose d'une expérience dans tous les secteurs de la recherche, notamment en sciences de la vie, science des matériaux, synthèse chimique, chromatographie, analyse et dans de nombreux autres domaines..

Contacter notre Service technique