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Supelco

Silicon Standard for ICP

TraceCERT®, 1 g/L Si in NaOH (nominal concentration)

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About This Item

Código UNSPSC:
41116107
NACRES:
NA.24

grado

certified reference material
TraceCERT®

Nivel de calidad

Línea del producto

TraceCERT®

concentración

1 g/L Si in NaOH (nominal concentration)

técnicas

ICP: suitable

aplicaciones

industrial qc
pharmaceutical

formato

single component solution

Descripción general

This certified reference material (CRM) is produced in accordance with ISO 17034 and characterized in accordance with ISO/IEC 17025. This CRM is traceable to SI unit kg and measured against primary material from a National Metrology Institute (NMI), e.g. NIST.

Please visit ISO certificates and Site Quality Self-Assessments to access the current certificates of accreditation.

Download your certificate at http://www.sigma-aldrich.com to view certified values, including uncertainty, date of expiry, and detailed information about trace impurities.

Aplicación

50 ng/g of Silicon standard may be used to improve maximum signal-to-background intensity ratios (SBR) during High-resolution inductively coupled plasma mass spectrometry (HR-ICP-MS).

Nota de análisis

1 g/L Si in 2% sodium hydroxide, prepared with high purity Si, NaOH and water

Otras notas

For a complete product listing of our TraceCERT® range of CRMs for ICP and AAS, technical information, and example certificates please visit our ICP & AAS standards website

Información legal

TraceCERT is a registered trademark of Merck KGaA, Darmstadt, Germany

Pictogramas

Corrosion

Palabra de señalización

Danger

Frases de peligro

Clasificaciones de peligro

Eye Dam. 1 - Met. Corr. 1 - Skin Corr. 1B

Código de clase de almacenamiento

8B - Non-combustible corrosive hazardous materials

Clase de riesgo para el agua (WGK)

nwg

Punto de inflamabilidad (°F)

Not applicable

Punto de inflamabilidad (°C)

Not applicable

Equipo de protección personal

Faceshields, Gloves, Goggles, type ABEK (EN14387) respirator filter


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Trace-level determination and insight in speciation of silicon in petrochemical samples by flow-injection high resolution ICP MS and HPLC-high resolution ICP MS.
Pohl, Pawel, et al.
Journal of Analytical Atomic Spectrometry, 25.9, 1461-1466 (2010)

Nuestro equipo de científicos tiene experiencia en todas las áreas de investigación: Ciencias de la vida, Ciencia de los materiales, Síntesis química, Cromatografía, Analítica y muchas otras.

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