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NIST2000

Calibration standard for high-resolution X-ray diffraction

NIST® SRM® 2000

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About This Item

Code UNSPSC :
41116107
Nomenclature NACRES :
NA.24

Qualité

certified reference material

Niveau de qualité

100

Forme

solid

Conditionnement

pkg of 1 block

Fabricant/nom de marque

NIST®

Technique(s)

diffraction/scattering: suitable

Application(s)

general analytical

Catégories apparentées

Description générale

Each unit of Standard Reference Material (SRM) contains 25 mm × 25 mm × 0.725 mm double-polished (100)-oriented, single-crystal Si specimens with a nominal 50 nm Si0.85Ge0.15 epitaxial layer and 25 nm Si cap. For more information, please refer to the SDS and COA.


SRM 2000_cert

SRM 2000_SDS

Application

This Standard Reference Material (SRM) offers the high-resolution X-ray diffraction (HRXRD) community SI-traceable Si (220) d-spacing in transmission, wafer miscut angle relative to the crystal plane, and the surface-to-Si (004) Bragg angle in reflection for the specified reference wavelength.

Caractéristiques et avantages

Certified values for SRM 2000 are available and can be used to calibrate HRXRD instrumentation. Expiration details, along with instructions for use, are included on the NIST certificate.

Autres remarques

Please download a current certificate at nist.gov/SRM for current analytes and certified values.

Informations légales

NIST is a registered trademark of National Institute of Standards and Technology
SRM is a registered trademark of National Institute of Standards and Technology

Code de la classe de stockage

11 - Combustible Solids

Classe de danger pour l'eau (WGK)

nwg

Point d'éclair (°F)

Not applicable

Point d'éclair (°C)

Not applicable

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